和老大商量近期的工作重點(diǎn)，短期內(nèi)能做出點(diǎn)成績(jī)來(lái)的，主要是集中在電氣系統(tǒng)上面。所以從高壓線束、電子控制的硬件電路、配電盒還有一些保護(hù)策略性的內(nèi)容開(kāi)始，我把簡(jiǎn)單的內(nèi)容梳理下，然后進(jìn)一步應(yīng)用到工作里面。如下圖所示，電氣系統(tǒng)里面的影響是挺大的，而且很多內(nèi)容也是電池系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程中，電氣部分需要設(shè)計(jì)承受的。

圖1 電池系統(tǒng)電氣層級(jí)一些問(wèn)題

如之前的表格里面所說(shuō)的，短路/過(guò)流嚴(yán)格意義上是指各個(gè)層級(jí)（單體、模組、半包和電池整包）超過(guò)額定的放電設(shè)計(jì)出現(xiàn)過(guò)多的情況。

表1 功能失效問(wèn)題

圖2 各個(gè)層級(jí)的短路要求

電池系統(tǒng)短路測(cè)試： 按照GBT31476.3，短路電阻<20毫歐，短路10分鐘。

MSD分?jǐn)喟氚鼫y(cè)試：此項(xiàng)內(nèi)容，主要考慮一個(gè)極端情況，在MSD內(nèi)系統(tǒng)熔絲不起作用的條件下看整個(gè)設(shè)計(jì)的情況。

模組的短路測(cè)試：按照GBT31485的要求為，短路電阻<5毫歐，時(shí)間10分鐘。

單體短路測(cè)試：按照GBT31485的要求為，短路電阻<5毫歐，時(shí)間10分鐘。實(shí)際需要根據(jù)電池的最小單元連接情況來(lái)增加對(duì)此情況的模擬。

表2 現(xiàn)有國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)和未來(lái)GB此項(xiàng)功能試驗(yàn)內(nèi)容分配

不同層級(jí)有不同的做法：

1）BMS根據(jù)電流檢測(cè)的情況，來(lái)切斷接觸器，在這種短路帶載的情況下，選用的接觸器要至少能切斷1次

2）MSD里面的熔絲，需要仔細(xì)考慮這種情況

以上層級(jí)在Pack層級(jí)大家做的比較多

模塊層級(jí)，前面也談過(guò)了，主要考慮這種設(shè)計(jì)，或者采用J-bar來(lái)打孔來(lái)做，這里重點(diǎn)需要在模組層級(jí)考慮這個(gè)內(nèi)容。

實(shí)際的半包的短路效果很直接的

電芯層面設(shè)計(jì)Fuse：每個(gè)Cell的內(nèi)部設(shè)計(jì)一個(gè)Fuse，在短路瞬間，斷開(kāi)電流回路,起到短路保護(hù)的作用。

1、軟包電池利用每個(gè)電芯焊接一個(gè)Fuse的設(shè)計(jì)，或者考慮Tab在這種條件下的狀態(tài)，這個(gè)設(shè)計(jì)過(guò)程是挺有趣的設(shè)計(jì)，考慮載流和過(guò)流的情況

2、硬殼電池在每個(gè)電芯配一個(gè)Fuse的設(shè)計(jì)

假日事情比較多，先寫到這里后續(xù)補(bǔ)充。